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HIOKI 3174絕緣耐壓測(cè)試儀
名稱：絕緣電阻測(cè)試儀
品牌：
型號(hào)：
簡(jiǎn)介：HIOKI 3174交流絕緣耐壓測(cè)試儀可檢查接觸功能和充分遠(yuǎn)程控制 傳感器，內(nèi)存與電池都包含在17.35直徑的單元中 HIOKI 3174最多可采集2,048個(gè)溫度測(cè)量點(diǎn)（間隔為4小時(shí)15分時(shí)，可用一年） HIOKI 3174交流絕緣耐壓測(cè)...
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- 產(chǎn)品介紹
HIOKI 3174交流絕緣耐壓測(cè)試儀可檢查接觸功能和充分遠(yuǎn)程控制
•傳感器，內(nèi)存與電池都包含在17.35直徑的單元中
•HIOKI 3174最多可采集2,048個(gè)溫度測(cè)量點(diǎn)（間隔為4小時(shí)15分時(shí)，可用一年）
•HIOKI 3174交流絕緣耐壓測(cè)試儀可通過選擇讀本來實(shí)現(xiàn)諸如數(shù)據(jù)圖表之類的PC過程，以便進(jìn)行溫度數(shù)據(jù)采集
• 絕緣（500/1000V）/ 耐壓（變壓器容量100VA）連續(xù)測(cè)試
•HIOKI 3174交流絕緣耐壓測(cè)試儀可以在自動(dòng)測(cè)試模式下連續(xù)絕緣耐壓、耐壓絕緣測(cè)試
• 與安全測(cè)試軟件9267組合
• 保存耐壓模式、絕緣模式、各種最大8通道的測(cè)試條件
• 根據(jù)PWM方式，發(fā)生不依存電源電壓的正確的測(cè)試電壓
| C測(cè)試電壓 | AC0.2～5.00kV |
| 電壓設(shè)置方式 | 數(shù)字設(shè)置，設(shè)置分解能：0.01kV |
| AC波形/頻率數(shù) | 弦波（無負(fù)荷的變形率在5％以下），可以在50/60Hz切換 |
| 電流測(cè)量范圍 | 0.01mA～20.0mA，有效值表示（數(shù)字） |
| 測(cè)量量程 | 10mA，分解機(jī)能：0.01mA / 100mA，分解機(jī)能：0.1mA |
| 電壓計(jì) | 精度：±1.5%rdg.（1000V以上），±15V（1000V以下）（有效值表示） |
| 判定方式 | 比較窗口方式（數(shù)字設(shè)定） |
| 額定電壓 | DC500V，DC1000V |
| 無負(fù)載電壓 額定電壓的1～1.2倍 | |
| 額定測(cè)量電流 1～1.2mA，短路電流：4～5mA（500V）/2～3mA（1000V） | |
| 測(cè)量范圍/精度 0.5MΩ～999MΩ(5000V)/1MΩ～999MΩ(1000V)：±4%rdg. | |
| 1000 MΩ～2000 MΩ：±8%rdg. | |
| 判定方法 比較窗口方式（數(shù)字設(shè)定） | |
| 無負(fù)載電壓 | 額定電壓的1～1.2倍 |
| 額定測(cè)量電流 | 1～1.2mA，短路電流：4～5mA（500V）/2～3mA（1000V） |
| 測(cè)量范圍/精度 | 0.5MΩ～999MΩ(5000V)/1MΩ～999MΩ(1000V)：±4%rdg. |
| 1000 MΩ～2000 MΩ：±8%rdg. | |
| 判定方法 | 比較窗口方式（數(shù)字設(shè)定） |
| 測(cè)量范圍/精度 | 0.3 ～ 999s, 0.3 ～ 99.9s : ±50ms, 100 ～ 999s : ±0.5s |
| Delay/光源計(jì)時(shí)器 | 0.1 ～ 99.9s: ±50ms, 分解能0.1s |
| 功能 | 耐壓，在絕緣抵抗的試驗(yàn)內(nèi)容中各8通道記憶體，保持，蜂鳴器，檢查接觸功能（耐壓，絕緣抵抗） |
| 監(jiān)測(cè)功能 | 輸出電壓，探測(cè)電流，絕緣電阻。監(jiān)測(cè)周期：4回/s以上 |
| 電源 | AC100～240V(50/60Hz)，200VA max |
| 體積/重量 | 320W×155H×395Dmm，15kg |
| 附件 | 615高壓測(cè)試線（高壓線和回路，各1），電源線×1 |
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