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布魯克Bruker M1 MISTRAL X射線熒光光譜儀
名稱：光譜儀
品牌：
型號：
簡介：布魯克Bruker M1 MISTRAL X射線熒光光譜儀是采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀，可對大件樣品和鍍層樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的分析。分析的元素范圍：原子序數(shù)22號（鈦）以上的所有元素。分析的樣品類型：各種不同的材料，如金屬、合金、金屬鍍層包括多層...
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- 產(chǎn)品介紹
布魯克Bruker M1 MISTRAL X射線熒光光譜儀是采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀，可對大件樣品和鍍層樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的分析。分析的元素范圍：原子序數(shù)22號（鈦）以上的所有元素。分析的樣品類型：各種不同的材料，如金屬、合金、金屬鍍層包括多層鍍層樣品。布魯克Bruker M1 MISTRAL X射線熒光光譜儀樣品尺寸最大可達(dá)100×100×100mm，無需任何處理，直接放在樣品臺上檢測。光管位于樣品上方，測量過程中不接觸樣品，因此可以很容易地分析復(fù)雜式樣的樣品，如精工細(xì)作的珠寶或不同厚度的樣品。
布魯克Bruker M1 MISTRAL X射線熒光光譜儀的微焦斑X射線光管，即使光斑尺寸小到100µm也可以產(chǎn)生足夠的射線強(qiáng)度，光斑大小取決于所使用的準(zhǔn)直器。采用視頻顯微鏡進(jìn)行準(zhǔn)確定位，可以測量任何想測的位置?？蛇x計算機(jī)控制的自動樣品臺，并自動聚焦。不管您是根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)來控制樣品的質(zhì)量，還是測量完全未知樣品的組成，XSpect分析軟件都提供了合適的工具：對于塊狀樣品和多層膜樣品，進(jìn)行有標(biāo)樣定量和無標(biāo)樣定量（基本參數(shù)法）。點擊一下鼠標(biāo)就可以自動進(jìn)行重復(fù)測量。布魯克Bruker M1 MISTRAL X射線熒光光譜儀可配兩種不同類型的探測器：大面積的充氣正比計數(shù)器，可用于質(zhì)量控制中的標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用；或者配置硅漂移探測器，具有超快的檢測速度和非常好的能量分辨率，檢出限可以達(dá)到0.01%。先進(jìn)的探測器、數(shù)字脈沖處理器及優(yōu)化的幾何結(jié)構(gòu)，確保了X射線探測的最大效率，以快速地得到準(zhǔn)確的分析結(jié)果。布魯克Bruker M1 MISTRAL X射線熒光光譜儀及其軟件的設(shè)計，讓操作人員只需經(jīng)過簡單培訓(xùn)即可使用。僅一個電源接口就可以運行儀器，采用空氣冷卻，無需消耗品。堅固的結(jié)構(gòu)確保最高的穩(wěn)定性，并且完全免維護(hù)。
以下是艾克賽普為您介紹布魯克Bruker M1 MISTRAL X射線熒光光譜儀的技術(shù)參數(shù)，如有相關(guān)問題，請聯(lián)系長沙艾克賽普儀器儀表公司easygofood.com，聯(lián)系電話：0731-84284278 84284378。
布魯克Bruker M1 MISTRAL X射線熒光光譜儀技術(shù)參數(shù)：M1 MISTRAL根據(jù)所配探測器不同分為二種型號：正比計數(shù)器（PC）型和高分辨的硅漂移探測器（SDD）型 M1 MISTRAL(PC) 。激光源：高性能微焦斑光管，W靶，玻璃窗。電壓及功率為40kV, 40W。探測器：大面積正比計數(shù)器，1100mm²感應(yīng)面積。光斑尺寸：準(zhǔn)直器交換器，0.3 mm或以上。樣品觀察：高分辨彩色攝像系統(tǒng)，放大倍數(shù)20-40倍。樣品臺：馬達(dá)驅(qū)動Z方向樣品臺，自動對焦。選項：馬達(dá)驅(qū)動X-Y-Z樣品臺，自動對焦，便捷進(jìn)樣功能。定量分析、塊狀樣品：基于標(biāo)樣的經(jīng)驗系數(shù)法模型和無標(biāo)樣模型。鍍層分析：基本參數(shù)法模型。 電源：110 to 230 V AC; 50/60Hz, 最大功率100W。 尺寸（寬x深x高）550x700x430mm。重量46kg
M1 MISTRAL(SDD)激發(fā)源 高性能微焦斑光管，W靶，玻璃窗。電壓及功率50kV, 50W。探測器 電制冷高性能XFlash® 硅漂移探測器，30mm²感應(yīng)面積，對Mn-Ka能量分辨率小于150eV。光斑尺寸：準(zhǔn)直器交換器，0.5 mm或以上。樣品觀察：高分辨彩色攝像系統(tǒng)，放大倍數(shù)20-40倍。樣品臺：馬達(dá)驅(qū)動X-Y-Z樣品臺，自動對焦，便捷進(jìn)樣功能。定量分析、塊狀樣品：基于標(biāo)樣的經(jīng)驗系數(shù)法模型和無標(biāo)樣模型。鍍層分析：基本參數(shù)法模型。電源：110 to 230 V AC; 50/60Hz, 最大功率120W。尺寸（寬x深x高）550x700x430mm。重量50kg。
如果你需要布魯克Bruker M1 MISTRAL X射線熒光光譜儀及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯(lián)絡(luò)我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
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