日本日置 HIOKI FT3405/FTC406轉速計
名稱：其他儀器與工具
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簡介：HIOKI(日置電機株式會社：日本國長野縣上田市；社長:吉池達悅)開發(fā)出最適合于測量頻率為1kHz、100kHz、1MHz測量所要求的低容量電容器測量的C 測試儀 3506與C 測試儀 3505。 低容量C測量儀器 C 測試儀 3506與3...
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- 產品介紹
HIOKI(日置電機株式會社：日本國長野縣上田市；社長:吉池達悅)開發(fā)出最適合于測量頻率為1kHz、100kHz、1MHz測量所要求的低容量電容器測量的“C 測試儀 3506與C 測試儀 3505”。 •低容量C測量儀器
C 測試儀 3506與3505是用于測量電解電容器以外的電容器的C（靜電容量）測量儀器，可測量頻率為1kHz、100kHz（僅限于3505）、1MHz的C（靜電容量）與D（損耗系數）。C 測試儀 3506與3505的測量范圍：C為0.000 pF～15.0000μF，D為0.00001～1.9900。最低量程為220 pF（1MHz時），與以往的產品相比，大幅度改進了微小容量測量的重復精度。提高了測量期間檢測接觸出錯的能力，適合于裝入自動檢查設備。
•充實了從低容量到高容量的C儀表系列產品
在已經發(fā)售的C 測試儀 3504的基礎上新增本次發(fā)售的C 測試儀 3506與3505，可進行低容量到高容量的電容器C測量。各機型均可進行最快2ms的高速測量，除了可應對taping machine 之外，還可以通過可將C測量值劃分為最多13或14＊1類別的BIN功能應用于分選機。 另外，可保存最多99或70＊2組的測量條件，除了可通過外部控制選擇測量條件之外，還可以向外部輸出比較器結果與BIN分選測量結果等，完善了便于構建與自動設備之間連接的接口。在構建高速自動化生產線上發(fā)揮出強大的威力。
*13506與3505為13類，3504為14類
*23506與3505為70組，3504為99組
產品概要
HIOKI已銷售了C 測試儀3504，電容器廠家與自動設備廠家還要求提供可測量低容量電容器的C測量儀器。C 測試儀 3506與3505繼承了3504獲得好評的高速檢查與測量值分類BIN功能，是可對低容量電容器實現(xiàn)穩(wěn)定測量精度并符合市場要求的產品。與3504一樣，C 測試儀 3506與3505的接口也采用外部I/O?RS-232C?GP-IB為標準配備，因此充實了簡易構建自動化生產線的功能。
便利性(C 測試儀 3506與3505的功能)
•最快2ms（模擬測量1ms）的高速測量 - 具有最快２ms（FAST時）的高速測量，可應對taping machine等的高速檢查。測量速度可進行FAST/NORMAL/SLOW三檔選擇。
•提高了重復測量精度 - 最低C量程為220 pF（1MHz時），與以往產品相比，微小容量測量的重復精度得到了提高。
•充實了接觸檢測功能 - 利用振動檢測功能等，可檢測測量期間的接觸出錯。出現(xiàn)接觸出錯的測量對象并非不良，通過ERR(出錯)判定，有助于提高成品率。
•比較器功能 - 可分別設定第1參數（C）與第2參數（D）的上、下限值。判定結果可利用蜂鳴器鳴響與LED顯示進行通告，也可以進行外部輸出，設定值可一直顯示。
•只需要選擇的簡單操作與LED顯示 - 是指從面板顯示所標記的項目中只需要進行選擇的簡易操作。設定的測量條件通過點亮LED進行顯示，一目了然，便于把握設定條件。
•BIN分選功能 - C測量可根據測量值劃分為最多13類，因此易于進行分選。
•觸發(fā)器同步輸出功能 - 施加觸發(fā)后，輸出測量信號，僅在測量時向被測元件施加信號。由于接觸被測元件時沒有大電流，因此減輕了接點的磨損。
•可保存70組測量條件 -可保存最多70組測量條件，可迅速應對重復測量較多的生產線的被測元件切換?？衫肊XT I/O讀取任意測量條件。
•打印機輸出 - 通過RS-232C接口，可從選購件—9442打印機打印出測量值、比較器結果及BIN分選測量結果。這便于檢查結果的數據附加。
•EXT I/O?RS-232C,GP-IB標準配備 -觸發(fā)、測量條件的負載可從外部進行控制。另外，可進行比較器結果、BIN分選測量結果以及測量結束等的外部輸出，完善了與自動設備之間的接口。
•符合JIS標準 - 針對電解電容器以外的電容器，以較低的價格實現(xiàn)了基于JIS C 5101-1的，頻率為1kHz、1MHz的C-D(tanδ)測量。
主要用途
•電容器廠家的檢查與分選
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