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島津SHIMADZU OLS4100 原子力顯微鏡
名稱：其他儀器與工具
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簡介：島津SHIMADZU OLS4100 原子力顯微鏡開拓了激光顯微鏡的界限，總是值得信賴的影像和測量。 激光掃描顯微鏡的優(yōu)勢之一：非接觸式、無損、快速成像和測量。激光掃描顯微鏡（LSM）采用低功率激光，不接觸樣品。因此，不像基于探針系統(tǒng)的接觸...
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島津SHIMADZU OLS4100 原子力顯微鏡開拓了激光顯微鏡的界限，總是值得信賴的影像和測量。
激光掃描顯微鏡的優(yōu)勢之一：非接觸式、無損、快速成像和測量。激光掃描顯微鏡（LSM）采用低功率激光，不接觸樣品。因此，不像基于探針系統(tǒng)的接觸式表面粗糙度測量儀那樣存在損壞樣品的風(fēng)險。無需前期準備即可成像，掃描電子顯微鏡（SEM）在觀察之前需要進行前期的樣品準備，如真空脫水和/或切片處理，使之適合樣品室。而LSM則無需前期的樣品準備即可對樣品進行測量。而且，將樣品放置在載物臺上之后，即可直接開始成像。
激光掃描顯微鏡的優(yōu)勢之二：卓越的XY測量。在XY平面精確測量亞微米級的距離，干涉儀是基于普通白光的光學(xué)顯微鏡，它的平面分辨率不高。而LSM通過采用更大數(shù)值孔徑的物鏡和更小波長的光波，極大地提高了平面分辨率。并且通過高精度的激光控制技術(shù)，獲得更為精確的樣品表面形貌。根據(jù)拍攝到的圖像，LSM可以進行非常精確的XY平面亞微米測量。島津SHIMADZU OLS4100 原子力顯微鏡達到了0.12µm的平面分辨率。
激光掃描顯微鏡的優(yōu)勢之三：卓越的Z軸測量。 在Z方向上精確測量亞微米級的高度。SEM可以拍攝到超高分辨率的影像，但是無法得到高度信息。LSM采用短波長半導(dǎo)體激光和獨有的雙共焦光學(xué)系統(tǒng)，會刪除未聚焦區(qū)域的信號，只將聚焦范圍內(nèi)的反射光檢測為同一高度。同時結(jié)合高精度的光柵讀取能力，可以生成高畫質(zhì)的影像，實現(xiàn)精確的3D測量。島津SHIMADZU OLS4100 原子力顯微鏡達到了10nm的高度分辨率。
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