布魯克Bruker MATRIX-F 傅立葉變換近紅外光譜儀
名稱：光譜儀
品牌：
型號：
簡介：布魯克Bruker MATRIX-F 傅立葉變換近紅外光譜儀可直接在過程反應釜或管道內(nèi)測量，從而更好的理解和控制生產(chǎn)過程。提供快速準確的在線結果，多組分同時分析。綠色無損分析。布魯克Bruker MATRIX-F 傅立葉變換近紅外光譜儀內(nèi)置...
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- 產(chǎn)品介紹
布魯克Bruker MATRIX-F 傅立葉變換近紅外光譜儀可直接在過程反應釜或管道內(nèi)測量，從而更好的理解和控制生產(chǎn)過程。提供快速準確的在線結果，多組分同時分析。綠色無損分析。布魯克Bruker MATRIX-F 傅立葉變換近紅外光譜儀內(nèi)置式6通道多路器。模型直接傳遞。堅固的設計。以太網(wǎng)連接和支持工業(yè)標準通信協(xié)議。
傅立葉近紅外分析技術的實時在線監(jiān)控的優(yōu)勢已眾所周知。然而，傳統(tǒng)的光譜儀只能安裝在靠近監(jiān)控生產(chǎn)線的地方，這意味著將分析操作人員暴露在高溫高濕、噪音、粉塵等惡劣環(huán)境中。而且，測量點有時很難接近，甚至是防爆等危險區(qū)。通過利用光纖技術，布魯克Bruker MATRIX-F 傅立葉變換近紅外光譜儀主機可與實測點相距數(shù)百米，將探頭直接安裝在采樣點，大大簡化了工業(yè)現(xiàn)場測試的難度。此外，當環(huán)境特別惡劣時可將主機置于帶空調(diào)的工業(yè)小屋內(nèi)，這樣可以消除極端溫度影響，進一步優(yōu)化光譜儀的性能，還可以保護布魯克Bruker MATRIX-F 傅立葉變換近紅外光譜儀，防止其遭受過度污垢和灰塵。
布魯克Bruker MATRIX-F 傅立葉變換近紅外光譜儀是目前唯一的只用一臺儀器就可對物料進行接觸式測量和非接觸式測量的光譜儀。有不同的測量附件可供使用：1.光纖探頭，可根據(jù)需要配置漫反射、透反射或不同光程長度的液體透射探頭，以及流通池或其他試驗性裝置。還可根據(jù)物料性質(zhì)選擇配置不同材質(zhì)的探頭，如不銹鋼、哈氏合金或陶瓷。2.非接觸式測量的發(fā)射探頭，非接觸式發(fā)射探頭內(nèi)置鎢燈光源，可以直接照射樣本，并將收集的散射漫反射光通過光纖傳輸至光譜儀。通過這種方式，可以進行遠程非接觸式測量，實現(xiàn)一系列全新應用。布魯克Bruker MATRIX-F 傅立葉變換近紅外光譜儀可以提供多達六個流通池或探頭的光纖連接MATRIX-F emission或MATRIX-F duplex。
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