思看 i-Probe 500 TrackProbe跟蹤式光筆測量系統(tǒng)
名稱：3D三維掃描儀
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簡介：TrackProbe跟蹤式光筆測量系統(tǒng)TrackProbe跟蹤式光筆測量系統(tǒng)，由手持測量光筆i-Probe和新一代光學跟蹤器i-Tracker組成，專為計量級精度測量量身打造。整個系統(tǒng)憑借其高精度、高便攜性和高易用性的特點，能輕松應對大范圍...
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TrackProbe跟蹤式光筆測量系統(tǒng)
TrackProbe跟蹤式光筆測量系統(tǒng)，由手持測量光筆i-Probe和新一代光學跟蹤器i-Tracker組成，專為計量級精度測量量身打造。整個系統(tǒng)憑借其高精度、高便攜性和高易用性的特點，能輕松應對大范圍、遠距離及復雜嚴苛環(huán)境的測量需求。
面對生產車間現(xiàn)場，從夾具調裝到基準劃線測量、從小型零部件到大型工件如工程機械結構件尺寸檢測，TrackProbe跟蹤式光筆測量系統(tǒng)都能隨時隨地、無所拘束地開展高精度三維測量。
廣泛可擴展的測量范圍
搭配具有超遠可視范圍的跟蹤器i-Tracker，i-Probe測量光筆標準工作距離為6m，單站最遠測量距離可至10m，實現(xiàn)大型項目一站式高精度三維測量。
性能強大 精密計量
憑借高精度的光學傳感器技術和算法性能，能夠精確地探測和測量被測對象的幾何特征及形位公差。測量范圍在49.0m3范圍內，體積精度可達0.089mm；28.6m3范圍內，體積精度可達0.067mm；10.4m3范圍內，體積精度可達0.049mm。
深度隱藏點測量
i-Probe長500mm（不含測針長度），結合先進的算法技術，即便遮擋部分靶點也能精準探測，輕松獲取基準孔、隱藏點等關鍵部位的三維數(shù)據(jù)，大大拓展測量區(qū)域，測量更靈活，尤其適合汽車零件、航空部件等復雜內部結構、管道、孔洞以及異形工件等的測量。
接續(xù)測量 輕松轉站
在跟蹤器可視范圍內，光筆可以自由地從一個位置移動到另一個位置，跟蹤器能夠實時追蹤光筆的位置和姿態(tài)，并將其映射到對應的坐標系統(tǒng)中，從而保證測量的連續(xù)性，無需重新追蹤光筆。
基于先進的軟件和定位算法，i-Probe只需少量標記點即可實現(xiàn)輕松轉站，大大提升了轉站的便捷性，簡化了測量流程，對于遠距離、大尺寸工件數(shù)據(jù)獲取優(yōu)勢顯著。
靈活便攜 測量無束縛
手持測量光筆，無需固定安裝，可以輕松被帶至任何零部件位置，測量任意尺寸的物體。
兩種傳輸模式
采用無線模式，可擺脫傳統(tǒng)硬測設備受機械結構或線纜的束縛，為現(xiàn)場測量提供更大的靈活性；面對特定使用場景，可選擇有線模式，滿足數(shù)據(jù)安全特殊要求。
硬測、掃描一體
結合TViewer軟件能自動統(tǒng)一掃描數(shù)據(jù)與硬測數(shù)據(jù)于同一坐標系，實現(xiàn)掃描測量和接觸式測量之間無縫切換，測量過程更流暢。
多元場景 穩(wěn)定掌控
整機輕巧便攜，性能穩(wěn)定可靠，不易受震動、溫度、濕度、光線等外部因素影響，結合動態(tài)測量功能，可以實時計算并校準位置偏差。在復雜車間現(xiàn)場或戶外環(huán)境也能保持高精度動態(tài)跟蹤測量，無論是復雜曲面、高精度零件或是大型結構件都能實現(xiàn)精準三維測量。
技術規(guī)格
| 型號 | i-Probe 500 | ||
| 體積精度(1) | 10.4m3（距離跟蹤器3.5 m） | 0.049mm | |
| 28.6m3（距離跟蹤器5.0 m） | 0.067mm | ||
| 49.0m3（距離跟蹤器6.0 m） | 0.089mm | ||
| 測量距離（單站） | 最遠10m | ||
| 測量物體尺寸范圍（建議） | 0.1m-12m | ||
| 單個跟蹤相機像素 | 2500萬像素 | ||
| 光筆尺寸 | 510*145*89mm | ||
| 光筆重量 | 700g | ||
| 工作溫度 | 0–45°C | ||
| 工作濕度（非冷凝） | 10 ~ 90% RH | ||
| 連接方式 | 有線，無線 | ||
| 標記點數(shù)量 | 16 | ||
| 專利技術 | ZL201520680513.1, ZL202210065778.5, ZL202221475584.4, ZL202221766958.8, ZL202320545878.8 | ||
(1) 符合ISO10360-2要求。
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