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布魯克Bruker D8 ADVANCE X射線多晶衍射儀
名稱：其他儀器與工具
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簡介：布魯克Bruker D8 ADVANCE X射線多晶衍射儀是模塊化設(shè)計(jì)的全功能衍射儀，可實(shí)現(xiàn)粉末，塊體，薄膜等樣品的測試分析，同時(shí)支持高低溫條件下的原位分析。布魯克Bruker D8 ADVANCE X射線多晶衍射儀采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，...
- 產(chǎn)品介紹
布魯克Bruker D8 ADVANCE X射線多晶衍射儀是模塊化設(shè)計(jì)的全功能衍射儀，可實(shí)現(xiàn)粉末，塊體，薄膜等樣品的測試分析，同時(shí)支持高低溫條件下的原位分析。布魯克Bruker D8 ADVANCE X射線多晶衍射儀采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，通過TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)，成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換，而無需對光。布魯克Bruker D8 ADVANCE X射線多晶衍射儀通過革命性的TWIST TUBE技術(shù)，使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點(diǎn)光源應(yīng)用（織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū)）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！
布魯克Bruker D8 ADVANCE X射線多晶衍射儀高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個(gè)衍射峰（注意不是一個(gè)衍射峰）的測量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過0.01度，布魯克AXS公司提供全球保證！先進(jìn)的林克斯陣列探測器可以提高強(qiáng)度150倍，不僅答復(fù)提高設(shè)備的使用效率，而且大幅提高了設(shè)備的探測靈敏度。技術(shù)指標(biāo)：Theta/theta立式測角儀；2Theta角度范圍：-110~168°；角度精度為0.0001度；Cr/Co/Cu靶，標(biāo)準(zhǔn)尺寸光管；探測器：林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器；儀器尺寸：1868x1300x1135mm；重量770kg；功率6.5kW。
布魯克Bruker D8 ADVANCE X射線多晶衍射儀應(yīng)用于：物相定性分析；結(jié)晶度及非晶相含量分析；結(jié)構(gòu)精修及解析；物相定量分析；點(diǎn)陣參數(shù)精確測量；無標(biāo)樣定量分析；微觀應(yīng)變分析；晶粒尺寸分析
原位分析；殘余應(yīng)力；低角度介孔材料測量 織構(gòu)及ODF分析；薄膜掠入射；薄膜反射率測量；小角散射。
如果您需要布魯克Bruker D8 ADVANCE X射線多晶衍射儀及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯(lián)絡(luò)我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
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